大红鹰dhy(中国)有限公司

       大口径光学元件散射缺陷检测仪(Model LSDI-2000-LA)，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本系统是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够高速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。

1. 高速度

2. 高灵敏度

3. 高重复性

4. 全自动操作

5. 可根据不同标准自动判别

注：可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。