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光学吸收测量仪


光学吸收测量仪

       光学薄膜吸收测量仪(Model PTS-2000),适用于各类光学薄膜和光学元器件表面吸收率的检测和分析。根据客户具体需求,可进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。

       光学材料体内吸收测量仪(Model PTB-2000),适用于各类光学元器件及材料体内吸收率的检测和分析。根据客户具体需求,可进行紫外、可见或者近红外波段的精密测量。

   产品特征

1、高灵敏度;

2、高重复精度;

3、一键式操作;

4、样品更换便捷、无需重复校准;

5、可进行吸收率的横向均匀性分析;

6、可进行激光辐照或环境变化条件下的吸收率稳定性分析;

7、泵浦光源:可以标配,也可根据用户需求选配或者由客户自配。

   主要技术参数
光学吸收测量仪

产品类别

光学薄膜吸收测量仪光学材料体内吸收测量仪

型号

PTS-2000PTB-2000

检测灵敏度

10 ppb10 ppb

检测波长

355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波长355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波长
泵浦激光

根据客户需求配置

根据客户需求配置

横向空间分辨率

≤10 μm ≤10 μm 
样品尺寸

50 mmx50 mm x10 mm

50 mmx50 mm x10 mm

注:可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。

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